Fakulty


Ústav fyziky


Ústav poskytuje komerční sféře služby především z oblastí nedestruktivního testování, vývoje diagnostických metod a návrhu indikátorů spolehlivosti pro materiály a elektronické součástky.

Během realizační fáze jsou naše projekty řízeny certifikovaným projektovým manažerem podle mezinárodní metodiky IPMA, máme nastaveny procesy, které zaručují zachování průmyslového tajemství.

Co nabízíme:

  • Nedestruktivní diagnostiku materiálů, především polovodičů a dielektrik
  • Kompletní řešení diagnostiky solárních článků a panelů
  • Využití metod elektromagnetické a akustické emise pro diagnostiku materiálů (kompozitní materiály, stavební materiály, horniny apod.)
  • Bezkontaktní nedestruktivní zkoumání povrchu materiálů s příčným superrozlišením
  • Analýzu lokálních optických a elektrických vlastností optoelektronických a fotonických struktur
  • Určení topografie povrchů
  • Vývoj senzorů rentgenového záření na bázi CdTe a detektorů plynů
  • Komplexní dielektrickou relaxační spektroskopii, sledování molekulární dynamiky dielektrických materiálů pomocí ALFA analyzátoru
  • Analýzu a zpracování signálů
  • Pronájem laboratoří, přístrojového vybavení a měřicích aparatur, vše na světové úrovni
  • Outsourcing specialistů i celých týmů
  • Konzultace a expertní poradenství, služby v oblasti projektového řízení

Speciální přístrojové vybavení:

  • Heliový uzavřený kryogenní systém Janis Research s rozsahem teplot 10 K až 500 K
  • Skenovací modulární mikroskop NT-MDT Solar pro optické blízké pole s vyměnitelnou AFM hlavou
  • Dusíkový laditelný laser pro oblast 530–1050 nm
  • Speciální aparatura pro měření elektronického šumu v nízkofrekvenčním rozsahu s precizní testovací stanicí Cascade Microtech M150, analyzátorem Kheitley 4200 s pěti nezávislými SMU a LCR metr Agilent 4980A
  • FFT dynamický spektrální analyzátor v základním pásmu (DC - 100 kHz) Agilent
  • Signálový a spektrální analyzátor Rohde & Schwarz FSV a spektrální analyzátor v základním pásmu Rohde & Schwarz FMU36
  • Kontinuální vzorkovací zařízení (vzorkovací frekvence 60 MHz) National Instruments
  • Chlazená detekční jednotka s fotonásobičem Hamamatsu
  • CCD kamera G2-3200 pro měření záření emitovaného z měřených vzorků
  • Počítačem řízený hydraulický lis do 300 kN
  • Měřiče deformace vzorku

Reference:

  • AVX Czech Republic, s. r. o., Lanškroun
  • AVX Czech Republic, s. r. o., Uherské Hradiště
  • KYOCERA Group Company
  • E S L, a.s.
  • Solartec, s. r. o.
  • Třinecké železárny, a. s.
  • Delong Instruments, a. s.
  • Netural Energy Engineering, s. r. o.
  • Icontio Ltd.
FaLang translation system by Faboba